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表面污染測定 第1部分:β發(fā)射體(Eβmax>0.15MeV)和α發(fā)射體 GB/T 14056.1-2008
作者:系統(tǒng)管理員 發(fā)布于:2014-04-07 瀏覽次數(shù):4355

 

GB/T 14056的本部分規(guī)定了測定β發(fā)射體和α發(fā)射體表面污染的方法。本部分適用于以單位面積放射性活度表示的設(shè)備、設(shè)施、放射性物質(zhì)的容器以及密封源的表面污染測定。本部分僅限于符合下述條件的β發(fā)射體和α發(fā)射體: a)β粒子加單能電子的粒子產(chǎn)生率為每100次衰變發(fā)射出接近100個(gè)粒子; b)α粒子的粒子產(chǎn)生率為每100次衰變發(fā)射出接近100個(gè)粒子。 β發(fā)射體詳見附錄A中表A.3。本部分不適用于皮膚和工作服的污染測定。

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